Über 60 Teilnehmer, davon mehr als die Hälfte aus der Industrie, erlebten eine Tagung mit lebhafter Diskussion. Bereits der Vortrag von Dr. Bernd Könemann, Vizepräsident von Logic Vision in San Jose, Kalifornien, und einer der Pioniere des Entwurfs selbsttestbarer Schaltungen, gab einen informativen und aktuellen Überblick über Testprobleme von Systemen, die auf einem einzigen Chip integriert sind. Der Test solcher Systeme stellt außerordentlich hohe Anforderungen an externe Testgeräte, und bereits heute ist mit zehn Milliarden Dollar der Markt für Testautomaten mikroelektronischer Systeme ca. zehnmal so groß wie der Markt für Entwurfswerkzeuge. Sowohl aus technologischen als auch aus ökonomischen Gründen ist abzusehen, daß sich dieser Trend nicht in diesem Umfang fortsetzen läßt und ein immer größerer Teil der Funktionen externer Testgeräte mit in die einzelnen Schaltungen integriert werden muß.

In fünf Sitzungen wurde über Zuverlässigkeit, testgerechten Entwurf und Selbsttestverfahren, Fehlersimulation und Fehlermodellierung, On-Line Test und über Testkonzepte für Controller berichtet und diskutiert. In der letzten Sitzung erläuterte Thomas Thurner von Daimler Benz das sogenannten X-By-Wire-Konzept, bei dem alle zentralen Funktionen des Automobils nicht mehr mechanisch sondern elektronisch gesteuert werden. Besonders plastisch wurde das Konzept mit dem Bild Steer-By-Wire, in dem das Lenkrad eines Fahrzeugs durch den bei Computerspielen oder bereits im Airbus bekannten Joystick ersetzt wird. Die Implikationen für die Zuverlässigkeit und Fehlertoleranz der mikroelektronischen Steuerung solcher Fahrzeuge wurde ausgiebig und zum Teil kontrovers diskutiert.

Insbesondere für Doktoranden und Diplomanden war eine Podiumsdiskussion von Interesse, bei der Vertreter der Firmen Bosch, Hewlett Packard, IBM, Philips und Siemens darüber berichteten, welches Wissen und welche Fähigkeiten Mitarbeiter im Bereich des Tests und der Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen mitbringen sollten. Es stellte sich heraus, daß die Anforderungen, je nach den zu entwickelnden und zu produzierenden Gütern, höchst unterschiedlich sind, Entwurf und Test von Mainframes mit dem Entwurf und Test von PCs nicht zu vergleichen sind und daß trotzdem Einigkeit darüber bestand, daß die Absolventen ein umfangreiches technisches und elektrotechnisches Wissen mitbringen sollten. Die Fähigkeit, Software zu entwerfen und zu codieren, wurde als selbstverständlich vorausgesetzt, während das technische Wissen den tatsächlichen Wettbewerbsvorteil eines Absolventen ausmacht.

Den Workshop leitete Prof. Dr. Hans-Joachim Wunderlich von der Universität Stuttgart, dessen Lehrstuhl für Rechnerarchitektur die Veranstaltung organisiert hat. Der nächste European Test Workshop der Computer Society des IEEE findet vom 26. bis 28. Mai 1999 in Konstanz statt.

H.-J.Wunderlich

KONTAKT
Prof. Hans-Joachim Wunderlich, Institut für Informatik, Abteilung Rechnerarchitektur, Breitwiesenstr. 20-22, 70565 Stuttgart, Tel.: 0711/ 7816-391, Fax: 0711/ 7816-288
e-mail: wu@informatik.uni.stuttgart.de.