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Aberrationskorrektur optischer Systeme mit einem LCD

 

Logo:Aberrationskorrektur optischer Systeme mit einem LCD
Interferenzen hinter einem Doppelspalt
Dynamische Doppelblende zur Messung von Aberrationen
Anwendungen
Beispielanwendung
Performance
Referenzen & Links

Aberrationen (Abbildungsfehler) beschränken die Leistungsfähigkeit optischer Systeme. Sie können vermieden werden, indem viel Aufwand in das Linsendesign und die Fertigung des optischen Systems gesteckt wird. Möchte man jedoch ein bereits bestehendes imperfektes System optimieren, so kann die Einführung eines Kompensationshologrammes die Lösung sein. Hierzu muss jedoch bekannt sein, welche Phasenfunktion am Ort des Hologrammes zur Kompensation der Aberrationen nötig ist. Dieser kurze Artikel beschreibt eine Methode, die einen räumlichen Lichtmodulator verwendet, um die nötige Phasenfunktion zu bestimmen und um im Anschluss auch die Phasenkorrektur zu realisieren.

Intferenzen hinter einem Doppelspalt

In Abb. 1 ist ein klassisches Experiment skizziert - der Youngsche Doppelspalt-Versuch. Wenn ein Doppelspalt mit kohärentem Licht (z.B. mit einem Laser) beleuchtet wird entstehen in einer Ebene hinter dem doppelspalt Interferenzstreifen. Intensitätsmaxima entehen dort, wo sich die optischen Weglängen über die zwei Lichtwege um ein Vielfaches der Wellenlänge unterscheiden. Das Licht interferiert dort konstruktiv. In den Bereichen dazwischen ist der optische Weglängenunterschied derart, dass die Beiträge von den zwei Spalten destruktiv Interferieren, es kommt zur destruktiven Interferenz und somit zur Auslöschung. Wollte man nun am Ort eines Minimums ein Maximum erzeugen, so müsste man die optische Weglänge des Lichtes durch einen der Spalte soweit verschieben, bis der Weglängenunterschied wieder ein Vielfaches der Wellenlänge beträgt. Dies ist die Grundidee des Verfahrens.

 

Abbildung 1: Youngscher Doppelspaltversuch. Intensitätsmaxima entstehen dort, wo der optische Weglängenunterschied ein Vielfaches der Wellenlänge beträgt.
Abbildung 1: Youngscher Doppelspaltversuch. Intensitätsmaxima entstehen dort, wo der optische Weglängenunterschied ein Vielfaches der Wellenlänge beträgt.


Dynamische Doppelblende zur Messung von Aberrationen
Abbildung 2: Optisches System, bestehend aus Teil 1 und Teil 2, mit eingeführter Doppelblende.

Abbildung 2: Optisches System, bestehend aus Teil 1 und Teil 2, mit eingeführter Doppelblende.

Das oben beschriebene Prinzip des Youngschen Doppelspaltversuches lässt sich auf nahezu beliebig ausgeprägte fokussierende Systeme übertragen. Ein Aberrationen enthaltendes System erzeugt vorerst,wie in Abbbildung 3 zu sehen, einen stark deformierten der Fokus. Es wird nun in das optische System eine Doppelblende eingeführt, woraufhin bei kohärentem Licht in der Fokusebene wieder ein Interferenzmuster entsteht (Abbbildung 4). Das Muster besteht im Allgemeinen aus Streifen, die mit einer Kamera aufgenommen und im Computer ausgewertet werden. Anhand der Lage der Streifen lässt sich berechnen, welcher optischer Weglängenausgleich an den Blenden nötig ist, um an dem Ort, an dem später ein scharfer Fokus entstehen soll, die Intensität zu maximieren. Derartige Messungen lassen sich nun mit beliebigen Positionen der Blenden durchführen, um den nötigen optischen Weglängenausgleich nicht nur für zwei Punkte zu bestimmen, sondern für eine grosse Anzahl an Punkten in der Ebene der Blenden.

Abbildung 3: Stark deofrmierter Spot eines optischen Systems mit Aberrationen Abbildung 4: Interferenzstreifen als Folge der zwei Blenden
Abbildung 3: Stark deofrmierter Spot eines optischen Systems mit Aberrationen Abbildung 4: Interferenzstreifen als Folge der zwei Blenden

Das Verfahren gewinnt enorm an Flexibilität, wenn zur Erzeugung der zwei Blenden eine Flüssigkristallanzeige (liquid crystal display, LCD) verwendet wird. Das LCD besteht aus in einem Gitter angeodneten Flüssigkristallzellen, die sich gezielt durchsichtig oder undurchsichtig schalten lassen. Die Doppelblenden lassen sich mit dem LCD nun automatisiert erzeugen und beliebig positionieren und dimensionieren. Systematisch scannen die zwei Blenden das LCD ab, um flächendeckend Information über den nötigen Weglängenausgleich zu erhalten. Das Ergebnis ist eine zweidimensionale Phasenkarte (Hologramm), die den nötigen Weglängenausgleich in der Ebene des LCDs angibt ( Abbbildung 5). Das Hologramm ist vorerst nur grob aufgelöst. Es enthält Phasenwerte nur für die Orte, an denen in der Messung Blenden dargestellt wurden. Mit einem Interpolationsalgorithmus lässt sich diese Phasenfunktion glätten, so dass ein kontinuierliches Phasenprofil entsteht ( Abbbildung 6 ).

Abbildung 5: Phasenkorrekturwerte für das optische System (in Grauwerten dargestellt) Abbildung 6: Kontinuierliches Korrekturhologramm für das optische System
Abbildung 5: Phasenkorrekturwerte für das optische System (in Grauwerten dargestellt) Abbildung 6: Kontinuierliches Korrekturhologramm für das optische System

Das Phasenprofil kann jetzt als statisches Korrekturelement speziell für das vorliegende optische System gefertigt werden. Besonders geschickt ist allerdings, das LCD direkt als Korrekturelement zu benutzen, weil es bereits exakt richtig positioniert ist. Dazu reicht es, das gemessene Hologramm mit Graustufen oder auch binarisiert darzustellen, um in der Fokusebene des optischen Systems den nun perfekten, beugungsbegrenzten Fukus zu erzeugen (Abbbildung 7).

 

Anwendungen

Aberrationskorrektur optischer Systeme
Vor allem in fokussierenden Systemen, die mit monochromatischem kohärenten Licht arbeiten, bietet sich das Verfahren an, um Aberrationen zu bestimmen und eventuell gleich mit dem LCD zu kompensieren.
Wellenfrontvermessung
Wenn das optische Teilsystem hinter dem LCD perfekt ist, so können die gemessenen Aberationen nur aus der auf das LCD fallenden Wellenfront kommen. Somit entspricht die Messung einer direkten Wellenfrontmessung.

Beispielanwendung

Das hier untersuchte optische System dient zur Rekonstruktion computer-generierter Hologramme, die über ein LCD dargestellt werden. In diesem Fall musste daher nicht einmal ein LCD eingeführt werden. Ohne Korrektur enthält das System leichte Aberationen und stellt die Rekonstruktion in unzureichender Qualität dar (Abbbildung 8). Die Messung der Aberrationen führten auf eine Phasenkorrektur, die einfach auf das computer-generierte Holgramm aufaddiert wurde. Dadurch entsteht eine Rekonstruktion mit wesentlich höherer Detailtreue (Abbbildung 9).

Hologrammrekonstruktion mit einem aberrierten optischen System Hologrammrekonstruktion mit den korrigierten optischen System
Hologrammrekonstruktion mit einem aberrierten optischen System Hologrammrekonstruktion mit den korrigierten optischen System

Performance

Performance des Messverfahrens
Vermessbare Apertur 37mm x 28mm (entspricht der Fläche der verfügbaren LCDs)
Messdynamik Bisher wurden Fehler bis 80 Wellenlängen gemessen
Empfindlicheit Es wurden Veränderungen erkannt, die dem Unterschied zwischen einer ebenen Welle und einer Kugelwelle mit 60km Radius entsprechen
Reproduzierbarkeit λ/100 rms (λ/30 PV)

Referenzen & Links

Referenzen

[1] J. Liesener, M. Reicherter, H.J. Tiziani, "Determination and compensation of aberrations using SLMs", Optics Communications 233, p. 161-166, 2004

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