K. Frenner
Mit der zunehmenden
Bedeutung der modernen Optik in der Anwendung, Entwicklung und
Fertigung von Mikro- und Nanostrukturen müssen auch Erscheinungen
des Lichtes erfasst werden, die über die geometrische Optik und
die skalaren Ansätze der Wellenoptik hinausgehen. Durch den
Einsatz von Computersimulationen lassen sich leicht Einblicke in diese
„Nanowelt“ gewinnen, die durch Messungen nur schwer oder gar nicht
möglich wären.
Ausgehend von
einer leicht verständlichen Darstellung der Polarisation,
Kohärenz und Interferenz wird die Lichtausbreitung in isotropen
und anisotropen Medien eingeführt. Reflexion, Transmission und
Totalreflexion werden dadurch praxisgerecht erfasst und die
Voraussetzungen für die Behandlung dünner und strukturierter
Schichten gelegt. Damit können dann moderne Messverfahren wie
Ellipsometrie oder Mikroskopie behandelt werden.
- Polarisation des Lichtes
- Interferenz und Kohärenz
- Licht an Grenzflächen
- Wellenoptik am Computer
- Dünne Schichten - Herstellung und Anwendung
- Ellipsometrie dünner Schichten
- Strukturierte Schichten – Herstellung und Anwendung
- Mikroskopie und Ellipsometrie strukturierter Schichten
- Kristalloptik und elektrooptische Komponenten
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