Valeriano Ferreras Paz hat Physik an der Universität Stuttgart studiert. Seine Diplomarbeit über Resonante magnetische Röntgenreflektometrie an dünnen magnetischen Schichtsystemen fertigte er am Max Planck Institut für Metallforschung an.

Seit Februar 2008 ist er als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Institut für Technische Optik auf dem Forschungsgebiet der hochauflösenden Messtechnik tätig. Er beschäftigt sich dabei vorwiegend mit der Methode der Scatterometrie und deren Simulation.